Serie PC3X Sistema de pruebas de ciclo de potencia para IGBT
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Equipo ambiental diseñado para probar y garantizar la fiabilidad de semiconductores de potencia bajo condiciones controladas
El sistema de pruebas de ciclos de potencia para IGBT reproduce condiciones reales de operación para evaluar su resistencia eléctrica, térmica y mecánica. Supervisa parámetros clave como la caída de tensión, pérdida de conmutación, temperatura de unión y posibles fallos, ayudando a estimar su vida útil, optimizar diseños y garantizar un rendimiento confiable en aplicaciones exigentes.
Características
- El sistema incorpora un cambio automático de polaridad, ideal para realizar pruebas bidireccionales en IGBT de doble matriz.
- Incorporan una base de datos SQ Lite que guarda la información en tiempo real y genera gráficos de tendencias, facilitando el seguimiento y análisis de resultados.
- También permite pruebas de envejecimiento en IGBT de doble puente, ya sea de forma independiente en cada brazo o en modos combinados en serie.
- Su software incluye una práctica biblioteca de dispositivos que ofrece parámetros preconfigurados, agilizando la preparación de pruebas y evitando introducir datos repetidos.
Ventajas
- Simulación realista de ciclos de potencia
Este sistema controla con gran exactitud factores esenciales como las formas de onda de corriente y voltaje, así como la frecuencia de los ciclos de encendido y apagado. Gracias a ello, logra reproducir fielmente las condiciones que enfrentan los IGBT en escenarios reales, garantizando pruebas confiables y representativas. - Control térmico preciso y confiable
El sistema integra sensores de alta sensibilidad que miden en tiempo real las variaciones de temperatura del chip, garantizando un seguimiento exacto durante las pruebas. Además, su unidad de refrigeración permite recrear diferentes escenarios de disipación térmica, similares a los que enfrentan los dispositivos en operación real. Gracias a este control detallado, es posible evaluar el rendimiento de los IGBT en diferentes rangos térmicos e identificar de manera temprana posibles fallos por fatiga térmica. - Análisis completo del comportamiento del dispositivo
El sistema no solo controla la temperatura y los ciclos de potencia, sino que también registra en tiempo real indicadores esenciales como la caída de voltaje en conducción, las pérdidas de conmutación y la dv/dt. Al analizar estos parámetros de forma conjunta, ofrece una visión profunda y precisa de cómo evolucionan y se degradan las propiedades eléctricas y térmicas del IGBT a lo largo de su vida útil.
Parámetros técnicos
| Sistema de prueba | Tipo de sistema | Sistema de prueba de ciclo de potencia IGBT |
| Modelo | PC3X | |
| Norma | JESD51-1 | |
| Dimensiones | Gabinete de control: 160 cm (ancho) × 150 cm (profundidad) × 185 cm (alto) | |
| Cámara de prueba: 101 cm (ancho) × 137 cm (profundidad) × 150 cm (alto) | ||
| Requisitos de potencia | Gabinete de control: CA 380 V / 50 Hz Cámara de prueba: CA 220 V / 50 Hz | |
| Potencia | Gabinete de control: 15 kW Cámara de prueba: 5 kW | |
| Fuente de alimentación de prueba | Número de fuentes de alimentación | 3 pzas |
| Rango de voltaje | 0~20 V | |
| Precisión de voltaje | ±1 % ± 5 dígitos | |
| Rango de corriente | 1~2000 A | |
| Precisión de la fuente de corriente constante | ±1 % | |
| Potencia máx. | 40 kW | |
| Voltaje de control de puerta | -10 V~ 20 V | |
| Precisión de la fuente de alimentación de puerta | ±1 % ±5 dígitos | |
| Tiempo de prueba | Tiempo de envejecimiento | 0-9999 h |
| Tiempo de conexión | 1-9999 s | |
| Tiempo de desconexión | 1-9999 s | |
| Ciclo de prueba | 1-999999 ciclos | |
| Control de temperatura | Temperatura ambiente ~105 ℃ Precisión: ±1 % Estabilidad: ±3 ℃ | |
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