LH6216 Sistema de pruebas de envejecimiento dinámico para circuitos integrados (CI)

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Soluciones integrales de ensayos ambientales para evaluar el rendimiento de baterías

Nuestro sistema de pruebas de envejecimiento dinámico está diseñado para validar la fiabilidad y el rendimiento de los chips bajo condiciones reales de operación. Mediante la combinación de factores de estrés como temperatura, voltaje y frecuencia, recrea entornos exigentes que permiten evaluar con precisión la resistencia y estabilidad de cada componente electrónico. Durante cada ciclo, el sistema identifica de forma temprana posibles fallos y optimiza los procesos de desarrollo, garantizando productos más sólidos y duraderos.

Actualmente, esta tecnología es esencial en sectores como la electrónica de consumo, la automotriz, las telecomunicaciones, la automatización industrial y la industria aeroespacial. Frente a las crecientes exigencias de rendimiento y confiabilidad, nuestras soluciones de prueba permiten a las empresas elevar sus estándares de calidad, reducir riesgos y reforzar su liderazgo competitivo.

Características

Este sistema está diseñado para responder a los desafíos más exigentes en las pruebas de circuitos integrados. Permite evaluar el rendimiento en todo el rango de amplitud de voltaje, alcanzando velocidades de hasta 33 MHz, lo que asegura resultados precisos.
Incorpora un osciloscopio de alta velocidad y gran precisión que facilita la detección de pequeñas variaciones en las señales eléctricas durante las pruebas de envejecimiento dinámico, brindando a los ingenieros una visión clara y detallada del comportamiento del chip.
Su plataforma flexible admite patrones de prueba avanzados basados en microinstrucciones, con formatos personalizables y profundidad ampliable, ideal para configurar escenarios complejos de forma rápida y eficiente.
La arquitectura de su software con base de datos integrada, permite que todos los registros se almacenen de manera segura, evitando cualquier pérdida de información, incluso ante cortes inesperados de energía. Esto garantiza trazabilidad completa y confianza en cada resultado.

Ventajas

Simulación realista y precisa
El sistema de pruebas de envejecimiento dinámico recrea con exactitud las condiciones reales de operación de los circuitos integrados, controlando temperatura, voltaje y señales para acelerar su envejecimiento natural y evaluar su fiabilidad en menos tiempo.
Detección temprana de fallos
Monitorea continuamente parámetros fundamentales como consumo, integridad de señal y ruido eléctrico, detectando fallos intermitentes o provocados por ciclos térmicos repetidos. Esto permite anticipar problemas y garantizar un rendimiento confiable antes de la comercialización.
Control ambiental preciso
El sistema mantiene de forma estable la temperatura, la humedad y el voltaje, mientras registra datos detallados en tiempo real. Esta supervisión constante permite crear perfiles completos de envejecimiento y detectar variaciones entre lotes, optimizando tanto el diseño como los procesos de fabricación.
Pruebas adaptables y eficientes
Su configuración flexible se ajusta a diferentes tipos de chips, tecnologías y requisitos de prueba. Permite modificar parámetros como voltaje, frecuencia o duración, e incluso ensayar varios dispositivos a la vez, acelerando los ciclos de validación y reduciendo costos. Es una solución ideal para entornos de producción de gran volumen en sectores como electrónica de consumo, automotriz y telecomunicaciones.

Parámetros técnicos

Sistema de prueba	Tipo de sistema	Sistema de prueba de envejecimiento dinámico de circuitos integrados (CI)
	Modelo	LH6216
	Norma	MIL-STD-883D, MIL-M-38510, GJB548, GJB597
	Dimensiones	Ancho 130 cm × Profundidad 140 cm × Alto 195 cm
	Fuente de alimentación	CA 380 V ± 5 %, 50 Hz
	Potencia	≤21 kW
Cámara de prueba de temperatura	Rango de temperatura	(temperatura ambiente 20) ℃~ 150 ℃
Cámara de prueba de temperatura	Desviación / Fluctuación de temperatura	150 ℃ ±2 ℃ (sin carga) / ±0.5 ℃
Fuente de alimentación de CC para pruebas	Canales	Cada canal integra cuatro líneas de alimentación independientes, diseñadas para cubrir distintas necesidades del chip: Vcc: alimentación principal para el funcionamiento del circuito, Vmux: alimentación destinada a las cargas conectadas, Vclk: controla la amplitud de las señales de reloj, Vee: proporciona voltaje negativo para operaciones específicas del chip.
	Rango de voltaje	0~18 V
	Rango de corriente	0~10 A
	Potencia máx.	100 W
Señal digital	Número de canales	Cada módulo de control y medición ofrece 64 canales digitales de alta velocidad, cada uno con salida independiente en modo triestado, lo que permite una gestión flexible y precisa de las señales durante las pruebas.
	Ajuste de longitud de paso programable	30 ns~0.4 s
	Profundidad programable	8 Mbit

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